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Johansson Thomas B.:
Multi-Element trace analysis by proton induced x-ray emission

 

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Multi-Element trace analysis by proton induced x-ray emission

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Details


1. Aufl. Eigenverlag 1974. with some pictures, xiv, 74 Seiten, 4°, Obr..

Zustand: cover little rubbed, library copy, otherwise good and clean condition

Best. Nr. 59971

Gewicht: 0.34 kg
Sprache: Englisch


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